Szkolenie: SPC i MSA

Kategoria: DOSKONALENIE ORGANIZACJI / TQM

Szkolenie zamknięte

Najedź kursorem na daną ikonkę aby dowiedzieć się więcej

Osoba kontaktowa:
Lidia Joniec
tel.: 33/858 08 03
email: ljoniec@pronost.pl

  • Poleć znajomemu
  • Zadaj pytanie


Tytuł: Statystyczne sterowanie procesami SPC i analiza systemów pomiarowych według MSA
Kategoria: DOSKONALENIE ORGANIZACJI / TQM
Metodyka: Wykłady
Opis: Uczestnicząc w szkoleniu:
Zrozumiesz, czym są czynniki zmienności procesu i jaki mamy na nie wpływ
Zrozumiesz interpretacji współczynników zdolności procesu i ich wpływ na jakość produkcji
Poznasz korzyści z wdrażania statystycznej oceny procesu
Nabędziesz umiejętność doboru, prowadzenia i interpretacji kart kontrolnych
Zrozumiesz wpływu systemu pomiarowego na ocenę procesu
Nabędziesz umiejętność interpretacji współczynnika GRR oraz wynikających z niego możliwości doskonalenia systemu pomiarowego
Poznasz metody oceny systemów atrybutowych
Poziom zaawansowania : początkujący
Trenerzy: mgr inż. Piotr Stokłosa
Wielkość grupy: 12
Program: Rola i miejsce statystyki w ocenie zdolności procesu produkcyjnego - wykrywanie a zapobieganie
Zmienność procesu i jej przyczyn
Typy rozkładów występujące w procesach
Graficzna analiza rozkładu procesu za pomocą histogramu
Stratyfikacja danych
Sterowalność procesu jako podstawa do określania współczynników zdolności
Wskaźniki zdolności (Cm, Cmk, Cp, Cpk, Pp, Ppk) - wyznaczanie i interpretacja
Typy kart kontrolnych i ich zastosowania - karty dla wartości ciągłych oraz atrybutywnych/dyskretnych
Dobór kart kontrolnych z uwzględnieniem specyfiki badanych charakterystyk
Prowadzenie kart kontrolnych dla wartości ciągłych na przykładzie karty X-R
Interpretacja wyników uzyskanych za pomocą kart kontrolnych
Prowadzenie i interpretacja kart typu I-MR
Inne typy kart kontrolnych dla danych ciągłych (PRE-Control, CUSUM i EWMA) oraz ich zastosowania
Typy i prowadzenie kart kontrolnych dla danych dyskretnych na przykładzie karty P
Analiza rozkładu z wykorzystaniem testów statystycznych oraz siatek prawdopodobieństwa
Rozwiązywanie typowych problemów podczas wprowadzania narzędzi SPC
Wymagania ISO/TS 16949:2002 a systemy pomiarowe
Podstawowe pojęcia statystyczne związane z MSA
Ogólne zagadnienia związane z planowaniem i oceną systemów pomiarowych
Metodyka wyznaczania zdolności urządzenia pomiarowego Cg i Cgk (Procedura I)
Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego - metoda GRR (Procedura II)
Wyznaczaniu Cg i Cgk – ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych ciągłych – ćwiczenia praktyczne
Rodzaje atrybutowych analiz R&R
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wyznaczania współczynnika Kappa - omówienie i ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wykrywania sygnału - omówienie i ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą analityczną (krótką) - omówienie i ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla badań niepowtarzalnych metodą zagnieżdżoną - wprowadzenie
Interpretacja wyników analiz pod kątem identyfikacji przyczyn błędów i doskonalenia kontroli
Wymagania: Szkolenie skierowane jest przede wszystkim do osób odpowiedzialnych za projektowanie i nadzór nad procesami technologicznymi oraz za dobór i ocenę systemów pomiarowych.
 

Poleć szkolenie znajomemu