Strona główna Szkolenia Statystyczne sterowanie procesem SPC –dla operatorów
Szkolenie: Statystyczne sterowanie procesem SPC –dla operatorów
Kategoria: JAKOŚĆ I BEZPIECZEŃSTWO / Inne
Szkolenie otwarte
Najedź kursorem na daną ikonkę aby dowiedzieć się więcej
Osoba kontaktowa:
Joanna Bielewicz
tel.: (12) 397 1881
email: info@tqmsoft.com.pl
| Tytuł: | Statystyczne sterowanie procesem SPC – warsztaty dla operatorów |
|---|---|
| Kategoria: | JAKOŚĆ I BEZPIECZEŃSTWO / Inne |
| Metodyka: | Wykłady |
| Opis: | Przedmiot szkolenia: Szkolenie składa się z dwóch części. Część pierwszą stanowią warsztaty rachunkowe z zakresu podstawowych metod SPC tj.: wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cp, Cpk, Pp, Ppk, ocena frakcji realizacji poza granicami specyfikacji (posługiwanie się zmienną zastępczą „z”, konstrukcja i interpretacja kart kontrolnych Shewarta według właściwości mierzalnych oraz według oceny alternatywnej. Celem części pierwszej jest zatem uporządkowanie i utrwalenie wiadomości z zakresu podstawowego SPC. Część druga szkolenia – również o charakterze warsztatowym obejmuje bardziej zaawansowane zagadnienia SPC, tj.: wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego, konstrukcja kast EWMA (wykładniczo ważonej ruchomej średniej), akceptacji procesu, idt., porównanie wymienionych kart z kartami kontrolnymi Shewarta, ocena wzajemnych relacji pomiędzy SPC i MSA. |
| Poziom zaawansowania : | początkujący |
| Trenerzy: | Trener TQMsoft |
| Program: | Program szkolenia: Wykład: • Rola i znaczenie SPC we współczesnych systemach zarządzania jakością. • Zmienność, przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności. • Pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą). Statystyczny opis zmienności – obliczanie i interpretacja średniej, mediany, rozstępu, odchylenia standardowego (przykłady). • Zdolność procesu. Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu/maszyny Cp, Cpk, Cp, Cpk. • Karty kontrolne jako narzędzie monitorowania procesu; ogólne zasady konstrukcji i funkcjonowania. • Charakterystyka kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu) i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p) , liczby niezgodności (c) , liczby niezgodności na jednostkę (u) ). • Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie informacji zawartych w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych. • Efektywny dobór rodzaju. Prowadzenie kart kontrolnych: dobór liczności próbki, sposób i częstość pobierania próbek, reguły czytania karty kontrolnej (identyfikacja sygnałów i nieprzypadkowych układów punktów – trendy, runy, periodyczność, klasterowanie itp.). • Metody zwiększanie czułości karty. Wpływ jakości systemu pomiarowego na czułość karty. Uwagi na temat wdrażania metod SPC. Ćwiczenia: Obliczanie i interpretacja podstawowych parametrów statystycznych. Interpretacja współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk. Ćwiczenia z zakresu „czytania kart kontrolnych”. |
Poleć szkolenie znajomemu
